Система контроля и анализа технических свойств полупроводниковых интегральных элементов и устройств специального назначения

Решение научно-технической проблемы выбора высоконадежных интегральных электронных компонентов вычислительной техники и систем управления, функционирующих в составе специализированных изделий.

Планируемые результаты:

Выявление новых информативных параметров, по значениям которых осуществляется прогнозирующий контроль, дающий возможность качественной оценки безотказности устройства, а также использования различных режимов контроля.

Результаты за 2012-2013 уч.г.:

- усовершенствование программно-аппаратной части системы контроля интегральных схем,

- переход на новые комплектующие (ПЛИС XILINX XS 95 XX) с целью проведения тестирования технического состояния современных БИС.